80-165-0004 ElektroPhysik, Máy đo độ dày đa lớp siêu âm QuintSonic-T ElektroPhysik, ElektroPhysik Vietnam

80-165-0004 ElektroPhysik, Máy đo độ dày đa lớp siêu âm QuintSonic-T ElektroPhysik, ElektroPhysik Vietnam

- ElektroPhysik 80-165-0004

- Tên sản phẩm: Máy đo độ dày đa lớp siêu âm QuintSonic-T ElektroPhysik với màn hình máy tính bảng

- Dải đo:

• Lớp 1: Dải đo 356 µm Độ phân giải 0,25 µm Độ chính xác 0,25 µm
• Lớp 2: Dải đo 890 µm Độ phân giải 0,5 µm Độ chính xác 0,5 µm
• Lớp 3: Dải đo 1.900 µm Độ phân giải 1 µm Độ chính xác 1 µm
• Lớp 4: Dải đo 3.900 µm Độ phân giải 2 µm Độ chính xác 2 µm
• Lớp 5: Dải đo 7.500 µm Độ phân giải 4 µm Độ chính xác 4 µm (ở tốc độ siêu âm 2375 m/s trong tất cả các lớp)

- Hãng sản xuất: Checkline/ ElektroPhysik

Mô tả chung:

Máy đo độ dày phủ siêu âm nhiều lớp 80-165-0004  QuintSonic-T ElektroPhysik, được thiết kế đặc biệt để đo độ dày lớp phủ không phá hủy lên đến 8 lớp sơn, sơn lót và các lớp phủ khác được áp dụng trên nhựa, vật liệu tổng hợp, kim loại và các vật liệu khác. Tổng độ dày, cũng như độ dày từng lớp, có thể được đo bằng một quy trình đơn giản.

Với màn hình lớn 8 inch, Máy đo độ dày thickness gauge QuintSonic T cung cấp tổng quan thân thiện với người dùng về phép đo cũng như chế độ xem tương ứng của tín hiệu siêu âm (A-scan). Các thông số để điều chỉnh tín hiệu được hiển thị đồng thời và có thể được điều chỉnh để đo dòng điện một cách nhanh chóng và dễ dàng. Quản lý dữ liệu toàn diện về các giá trị đo cho phép xuất dữ liệu ở định dạng văn bản và Excel cũng như tạo các báo cáo đo hoàn chỉnh ở định dạng pdf. Việc tích hợp các văn bản mô tả và hình ảnh hỗ trợ tài liệu về dữ liệu đo lường. Ngoài ra, phần mềm cho phép lưu trữ các lần quét riêng lẻ để điều chỉnh tiếp theo các miền cắt hoặc miền bị chặn. 

QuintSonic T lý tưởng cho môi trường khắc nghiệt nhờ xếp hạng IP 67 & MIL-STD 810 G và kính Gorilla® cực kỳ chắc chắn.

Đặc tính nổi bật của ElektroPhysik 80-165-0004:

• Đo độ dày lớp phủ không phá hủy
• Lên đến 7,5 mm / 0,29 inch tùy thuộc vào vật liệu
• Bao gồm màn hình máy tính bảng lớn và chắc chắn
• Đo tổng độ dày cũng như độ dày từng lớp của hệ thống nhiều lớp chỉ trong một thao tác
• Lưu trữ cho các phép đo, thống kê và hiệu chuẩn vật liệu
• Độ dày lớp tối thiểu: Xấp xỉ 10 µm / 0,3 mils (tùy thuộc vào vận tốc siêu âm trong lớp)
• Diện tích đo tối thiểu: 5 mm Ø / 0,2" Ø
• Thời gian đo lường: xấp xỉ 1 giây
• Các hàm thống kê: tối thiểu, tối đa, giá trị trung bình, độ lệch chuẩn, hệ số biến thiên, thống kê khối (tuân thủ chuẩn / người dùng có thể điều chỉnh), biểu đồ, biểu đồ xu hướng
• Bán kính cong tối thiểu lồi: 50 mm / 2" lõm: NA
• Đơn vị đo lường: mm, mm, triệu, inch
• Nhiệt độ hoạt động: +5...50°C
• Nhiệt độ bảo quản: -10...+50°C
• Cổng dữ liệu: IrDA 1.0, USB và RS232 qua cáp bộ điều hợp (có sẵn dưới dạng tùy chọn)
• Nguồn cấp: 4 x pin AA, Bộ đổi nguồn AC tùy chọn
• Hiển thị: Màn hình LCD 160 x 160 pixel, có đèn nền

Các sản phẩm tương tự: